安捷倫光譜儀 ICP 在稀土材料檢測(cè)中具有以下優(yōu)勢(shì)：

檢出限低

其具有極低的檢出限，能夠精確測(cè)量稀土材料中痕量甚至超痕量的雜質(zhì)元素，如鐵、鋁、鈣、鎂、鈉、鉀等，為嚴(yán)格的質(zhì)量控制和材料性能優(yōu)化提供有力支持。

動(dòng)態(tài)線性范圍寬

配備專li的自適應(yīng)積分技術(shù)和圖像映射技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)從 ppb 級(jí)到百分含量的所有元素的同時(shí)測(cè)定，確保在不同濃度范圍內(nèi)都能準(zhǔn)確測(cè)量稀土元素和雜質(zhì)元素，無(wú)需繁瑣的稀釋步驟。

分析速度快

利用新一代 VistaChip II CCD 檢測(cè)器，能夠在 35 秒內(nèi)測(cè)定 73 個(gè)元素，是市場(chǎng)上快的 ICP-OES 之一，可快速完成對(duì)稀土材料中多種元素的同時(shí)分析，提高檢測(cè)效率，降低檢測(cè)成本。

長(zhǎng)期穩(wěn)定性好

采用恒溫的中階梯光學(xué)系統(tǒng)和嚴(yán)格密封的檢測(cè)器，確保了儀器優(yōu)異的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，即使在連續(xù)分析多個(gè)樣品或長(zhǎng)時(shí)間使用的情況下，也能保持穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果，減少重復(fù)測(cè)量和校準(zhǔn)的需要。

抗干擾能力強(qiáng)

具有特別的冷錐接口技術(shù)，可有效地將冷等離子體尾焰從光路中除去，降低自吸收和重組干擾，還配備了軟件算法，如 FACT 干擾校正模式等，能夠有效消除光譜干擾，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

運(yùn)行成本低

采用高效的射頻發(fā)生系統(tǒng)，在低氬氣流速條件下也能維持穩(wěn)定的等離子體，比競(jìng)爭(zhēng)廠商的系統(tǒng)少消耗 20% 到 40% 的氬氣，降低運(yùn)行成本。

軟件功能強(qiáng)大

配備的 ICP Expert II 軟件以易用的工作表為基礎(chǔ)，包含自動(dòng)方法開(kāi)發(fā)和優(yōu)化功能，可實(shí)時(shí)顯示和查看分析結(jié)果，便于數(shù)據(jù)檢查和處理，簡(jiǎn)化了操作流程，使用戶能夠快速上手并高效完成檢測(cè)任務(wù)。